关于ICP-AES 中最佳载气流量的研究 |
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引用本文: | 隋诚运.关于ICP-AES 中最佳载气流量的研究[J].分析化学,1985(5). |
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作者姓名: | 隋诚运 |
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作者单位: | 广州有色金属研究院 |
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摘 要: | 载气流量是影响电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)分析的重要参数之一。辐射强度随载气流量的增大有峰值出现,不少文献作者对此作了解释:增大载气流量,一方面可以增加进入ICP的有效气溶胶量,使谱线强度增强;另一方面过大的载气流量又会使通道中的样品过份地稀释,停留时间减少和通道温度降低等,从而使谱线强度减少.
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