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| YBCO薄膜的PHREM研究 | |
| 作者姓名： | 刘维 吴源 陈烈 李林 |
| 作者单位： | 中国科学院物理研究所和中国科学院凝聚态物理中心,北京,100080 |
| 摘 要： | ＹＢＣＯ薄膜截面样品的高分辨电子显微镜（ＸＨＲＥＭ）研究已有报导［１，２］。它能给出薄膜与衬底之间的界面结构，薄膜的取向和缺陷等结构特征，为制备高质量的薄膜提供依据。与之相比，ＹＢＣＯ平面样品的高分辨电子显微镜（ＰＨＲＥＭ）研究则能给出较大区域的薄膜... |
| 关 键 词： | YBCO 薄膜 PHREM 超导体 |
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