Spurenanalyse an kleinen Substanzmengen mit Hilfe der R?ntgenfluorescenz

Zusammenfassung Am Beispiel der Spurenanalyse auf Al in einer SiO₂-Matrix wird gezeigt, daß es mit modernen Röntgenfluorescenzgeräten möglich ist, selbst in Präparaten von wenigen Milligramm Substanz noch Konzentrationen von 50 ppm und darunter nachzuweisen. Neben einigen Angaben über die Präparation wird dargelegt, wie sich beim Arbeiten mit innerem Standard bei dünnen Präparaten die Schichtdicke des Präparates auswirkt und wie dieser Einfluß korrigiert werden kann. Die Korrekturgleichung wird am Experiment überprüft.

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X-ray fluorescence analysis of trace elements in small samples

Taking as an example the determination of traces of Al in a matrix of SiO₂ it is demonstrated that modern X-ray fluorescence apparatus is capable of detecting concentrations of 50 ppm and less even in samples of a few milligrams. After some comments on the preparation of the sample the author discusses the effect of the sample thickness when working with an internal standard and shows how this influence can be corrected. The reliability of the equation for correction is checked in the light of experimental results.

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Die Arbeit wurde mit Mitteln des Landesamtes für Forschung des Landes Nordrhein-Westfalen gefördert. Verf. dankt Herrn Dr. R.-W. Schliephake für wertvolle Diskussionen.