用分光光度计测量校正法确定薄膜基片参数

本文叙述了一种获得薄膜基片光学参数精确值的方法。在推导基片组反射和透过通量的计算结果时,考虑了二次反射。本文还图解了适用于测量的简单程序,求出了基片参量值,并用来校正在薄膜分光光度计测量中的基片影响。把校正过的薄膜测量值与所得到的光学常数计算的数据进行了比较。