| 110keV质子辐照温控涂层性能变化的XPS分析 |
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| 引用本文： | 文万信,杨生胜,王立.110keV质子辐照温控涂层性能变化的XPS分析[J].中国物理 C,2006,30(4):364-367. |
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| 作者姓名： | 文万信 杨生胜 王立 |
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| 作者单位： | 苏州大学放射医学系，真空低温国家级重点实验室，真空低温国家级重点实验室 苏州 215007，兰州 730000，兰州 730000 |
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| 摘 要： | 实验研究了注量在1.0×1011—1.0×1016p/cm2范围依次变化时110keV质子辐照引起的温控涂层热光性能的变化,并使用XPS谱仪分析了辐照样品化学态的变化. 实验结果表明,质子注量不高于1.0×1014p/cm2时,同种材料的温控涂层样品的相对光反射率变化很小,同时同种材料样品的表面化学结构如化学位移和元素的比例变化很小.当注量高于1.0×1014p/cm2时, 样品的相对光反射率变化明显,样品表面的原子化学结构变化大, 化学位移明显增加, 元素比例变化显著,所有样品表面的C元素比例明显增大而O元素比例明显减小.一定注量的低能质子辐照能够使某些低太阳吸收率αs的温控涂层的太阳吸收率变得更低, 具有改善热光性能的效果.质子辐照之后温控涂层样品表面化学结构的变化与样品的物理性能的变化存在直接的关联.
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| 关 键 词： | 温控涂层 质子辐照 反射率 化学结构 |
| 收稿时间： | 2005-04-18 |
| 修稿时间： | 2005-04-18 |
XPS Study of Property Changes of the Themal Control Coatings with 110keV Proton Irradiation |
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| WEN Wan-Xin,YANG Sheng-Sheng,WANG Li.XPS Study of Property Changes of the Themal Control Coatings with 110keV Proton Irradiation[J].High Energy Physics and Nuclear Physics,2006,30(4):364-367. |
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| Authors: | WEN Wan-Xin YANG Sheng-Sheng WANG Li |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | thermal control coating proton irradiation reflectance chemical structure |
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