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光栅周期不一致对莫尔条纹法测量扭转角的影响
引用本文:秦富林,张尧禹,蔡盛,乔彦峰.光栅周期不一致对莫尔条纹法测量扭转角的影响[J].中国光学与应用光学,2009,2(6):508-512.
作者姓名:秦富林  张尧禹  蔡盛  乔彦峰
作者单位:1. 中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,吉林,长春,130033;中国科学院,研究生院,北京,100039
2. 中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,吉林,长春,130033
摘    要:为了提高用莫尔条纹法测量扭转角的测量精度,分析了光栅周期不一致对扭转角测量误差的影响。从基于莫尔条纹法测量扭转角的原理出发,论述了光栅周期不一致与测量精度的关系,讨论了引起两光栅周期不一致的两个因素,即光栅刻划误差以及两光栅栅面不平行。理论分析表明,前者是引起光栅周期不一致的主要原因。当两光栅等效周期比值β<1.001时,在±15′的测量范围内,选择光栅周期为50 μm,莫尔条纹宽度为1 400~1 800 μm时,光栅周期不一致引起的测量误差可以控制在1.6″之内。

关 键 词:光栅周期不一致  莫尔条纹法  扭转角测量
收稿时间:2009-08-16
修稿时间:2009-11-07
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