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SiH_2Cl_2-NH_3配比对a-SiN_x∶H薄膜PL峰的影响
引用本文:王小波,刘渝珍,奎热西,董立军,陈大鹏.SiH_2Cl_2-NH_3配比对a-SiN_x∶H薄膜PL峰的影响[J].发光学报,2005(4).
作者姓名:王小波  刘渝珍  奎热西  董立军  陈大鹏
作者单位:中国科学院研究生院 北京100049 (王小波,刘渝珍),中国科学院高能物理所 北京100049 (奎热西),中国科学院微电子研究所 北京100029 (董立军),中国科学院微电子研究所 北京100029(陈大鹏)
基金项目:中国科学院院长基金特别资助项目(936)
摘    要:低压化学气相沉积制备的纳米硅镶嵌结构的a-S iNx∶H薄膜,在3.75 eV的激光激发下,室温下发射1~3个高强度的可见荧光。在相同的沉积温度下(900℃),选择不同的S iH2C l2和NH3气体配比时,所得薄膜表现出不同的荧光属性,荧光峰的峰位和数目有着显著的变化。通过TEM、IR、XPS等分析手段对其原因进行了研究分析,认为不同配比下,生成的薄膜中缺陷态的种类和密度有所不同,这影响了其PL峰个数及其各峰的相对强弱。

关 键 词:纳米硅镶嵌结构  SiNx膜  光致发光  低压化学气相沉积

Photoluminescence Properties of Silicon-rich SiN_x Films Deposited from the SiH_2Cl_2-NH_3 Reactant Mixture in LPCVD
WANG Xiao-bo,LIU Yu-zhen,KUI Re-xi,DONG Li-jun,CHEN Da-peng.Photoluminescence Properties of Silicon-rich SiN_x Films Deposited from the SiH_2Cl_2-NH_3 Reactant Mixture in LPCVD[J].Chinese Journal of Luminescence,2005(4).
Authors:WANG Xiao-bo  LIU Yu-zhen  KUI Re-xi  DONG Li-jun  CHEN Da-peng
Institution:WANG Xiao-bo~1,LIU Yu-zhen~1,KUI Re-xi~2,DONG Li-jun~3,CHEN Da-peng~3
Abstract:
Keywords:nano-silicon microstructure  SiN_x film  photoluminescence  low pressure chemical vapor depo-(sition) (LPCVD)
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
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