首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     


Methoden der Spurenanalyse und ihre Anwendungsgrenzen
Authors:H. Specker
Affiliation:(1) Institut für anorganische Chemie der Ruhr-Universität Bochum, Deutschland;(2) Institut für Spektrochemie und angewandte Spektroskopie, Dortmund
Abstract:Zusammenfassung Die notwendigen Begriffe für die Spurenanalyse, Empfindlichkeit, Nachweisgrenze und Garantiegrenze für Reinheit werden definiert und an praktischen Beispielen erläutert. Bei den elektrochemischen Verfahren können 10–9 bis 10–10 m Lösungen noch bestimmt werden; in der Photometrie liegt die Nachweisgrenze einiger Verfahren bei 10–7 m Lösungen. In der spektrochemischen Analyse sind nach der Theorie absolute Mengen bis 10–13 g zu erfassen; die Atomabsorptionsspektroskopie erreicht dieselbe Größenordnung. In der Massenspektroskopie sind bei Ausschaltung des Untergrundes auf der Platte 10–16 g, das sind ungefähr 100000 Ionen, noch erkennbar. Die Aktivierungsanalyse ermöglicht in Sonderfällen den Nachweis von 10–14 g. Die katalytischen Nachweisreaktionen gestatten zwar den Nachweis sehr kleiner Mengen; zur Zeit sind aber nur sehr wenige spezifische Reaktionen zur Anwendung in der Spurenanalyse bekannt.
Summary The necessary terms for trace analysis, sensitivity, limit of detection and guarantee-limit are defined and illustrated by some practical examples. With electrochemical methods it is possible to determine 10–9 to 10–10 m solutions whereas the detection limit with photometrical methods is 10–7 m solution. In spectrochemical analysis, theoretically, it is possible to detect up to 10–13 g absolute amounts of substances. The atomic-absorption spectrochemical method approaches the same limit. In mass spectroscopy, after eliminating the background of the photographic plate, 10–16 g, that means about 100,000 ions, can be detected. In activation analysis the detection limit is 10–14 g (in special cases). Catalytic reactions permit the determination of very small amounts of substances, however, at present very few selective reactions are known for the application in trace analysis.
Keywords:
本文献已被 SpringerLink 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号