首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     


Catalytic effect of sodium chloride on limestone calcination and sulphation — electron microscopy and eds studies
Authors:K. Wieczorek-Ciurowa  L. H. J. Lajunen  P. Kokkonen
Affiliation:(1) Technical University of Cracow, 31155 Cracow, Poland;(2) University of Oulu, 90570 Oulu, Finland
Abstract:Thermogravimetric studies on the influence of sodium chloride on the kinetics of limestone sulphation were supported by scanning electron microscopy and energy dispersive X-ray microanalysis.On the basis of morphological observations on calcined and sulphated limestone and elemental microanalysis in an electron microprobe it was found that NaCl affects the sintering, favouring the formation of more compact structures of rounded crystallites during sulphation. Chlorine is largely lost during sulphation. Capacity of the sorbents under both TG and FBC conditions depends strongly on when and how the NaCl is introduced.
Zusammenfassung In Verbindung mit Scanning Elektronenmikroskopie und Röntgenmikroanalyse wurden thermogravimetrische Untersuchungen des Einflusses von Natriumchlorid auf die Kinetik der Sulfierung von Kalkstein durchgeführt.Auf der Grundlage von morphologischen Beobachtungen an kalziniertem und sulfiertem Kalkstein und durch Elementarmikroanalyse in einem Elektronenstrahlmikroanalysator wurde festgestellt, daß NaCl das Sintern beeinflußt. Infolgedessen wird bei der Sulfierung die Entstehung von abgerundeten Kristalliten begünstigt. Chlor wird während der Sulfierung größtenteils abgegeben. Die Kapazität der Sorptionsmittel hängt sowohl bei TG als auch bei FBC stark davon ab, wann und wie das NaCl eingebracht wurde.

Rcyiecyzcyyucymcyiecy Tcyiecyrcymcyocygcyrcyacyvcyicymcyiecytcyrcyicychcyiecyscy kcyicyiecy icyzcyucychcyiecyncyicyyacy vcylcyicyyacyncyicyyacy khcyyacyocyrcyncydcyacy ncyacytcyrcyicyyacy ncyacy kcyicyncyiecytcyicykcyucy scyucylcysoftcyfcyacytcyicy rcyocyvcyacyncyicyyacy lcyicymcyiecyscytcyocyncyacy bcyycy lcyicy pcyocydcytcyvcyiecyrcyzhcydcyiecyncyycy mcyiecytcyocydcyocyjcy scykcyacyncyicyrcyucyyucyshchcyiecyjcy ecylcyiecykcytcyrcyocyncyncyocyjcy mcyicykcyrcyocyscykcy ocypcyicyicy icy rcyiecyncytcygcyiecyncyocyvcyscykcyicymcy mcyicykcyrcyocyacyncyacylcyicyzcyocymcy ocy rcyacyscyscy iecyyacyncyicyiecymcy ecyncyiecyrcygcyicyicy. Ncyacy ocyscyncy ocyvcyiecy mcyocyrcyfcyocylcyocygcyicychcyiecyscykcyicykhcy ncyacybcylcyyucydcyiecyncyicyjcy icy ecylcyiecymcyiecyncytcy ncyocygcyocy mcyicykcyrcyocyacyncyacylcyicyzcyacy kcyacylcysoftcytscyicyncyicyrcyocyvcyacyncyncyocygcyocy icy scyucylcysoftcyfcyacytcyicyrcyocyvcyacyncyncyocygcyocy lcy icymcyiecyocytcyocyyacyacy bcyycylcyocy ncyacyjcydcyiecyncy ocy, chcytcyocy khcylcyocyrcyicydcy ncyacytcyrcyicyyacy zcyacytcyrcyacygcyicyvcyacyiecytcy scypcyiecykcyacyncyicy iecy, scypcyocyscyocybcyscytcyvcyucyyucyshchcyiecyiecy ocybcyrcy acyzcyocyvcyacyncyicyyucy bcyocylcyiecyiecy kcyocymcypcyacykcytcyncyycykhcy ocykcyrcyucygcylcyiecyncyncyycykhcy kcyrcyicyscytcyacylcy lcyicytcyocyvcy vcy pcyrcyocytscyiecyscyscyiecy ocybcyrcyacyzcyocyvcyacyncyicyyacy scyucylcysoftcyfcyacytcy acy. KHcylcyocyrcy bcyocylcysoftcyshcyiecyjcy chcyacyscytcysoftcyyucy vcy ycydcyiecylcyyacyiecytcyscyyacy vcy pcyrcyocytscyiecyscyscyiecy scyucylcysoftcyfcyacytcyicyrcyocyvcyacyncyicyyacy. Scyocyrcybcytscyicyocyncyncyacyyacy scypcyocyscyocybcyncy ocyscytcysoftcy yacyicymcyiecyscytcyocyncyacy vcy zcyncyacychcyicytcyiecylcysoftcyncyocyjcy mcyiecyrcyiecy zcyacyvcyicyscyicytcy ocytcy tcyocygcyocy, kcyocygcydcyacy icy kcyacykcyicymcy ocybcyrcyacyzcyocymcy vcyvcyocydcyicy lcyscyyacy khcylcyocyrcyicydcy ncyacytcyrcyicyyacy.


The authors wistl to thank Prof. E. M. Bulewicz of the Technical University of Cracow for helpful discussions and Mr. S. Sivonen of the University of Oulu for making available the facilities the SEM and EDS-X-ray microanalysis at the Institute of Electron Optics.
Keywords:
本文献已被 SpringerLink 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号