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基于FPGA的硅微机械陀螺特性曲线可重构测试
引用本文:罗兵,李超,吴美平,王安成.基于FPGA的硅微机械陀螺特性曲线可重构测试[J].中国惯性技术学报,2010,18(5).
作者姓名:罗兵  李超  吴美平  王安成
摘    要:设计了一套基于FPGA(Field Programmable Gate Array)的硅微机械陀螺特性曲线可重构测试系统,能够同时测试出硅微机械陀螺的驱动频率特性以及驱动模态到敏感模态的正交耦合特性。基于SOPC(System On a Programmable Chip)嵌入式软件编写程序,采用扫频方法从驱动激励端输入一系列由低频到高频的正弦激励信号,在驱动检测端输出,可以扫描出驱动模态的频率特性曲线,同时在敏感检测端输出,可以扫描出驱动模态到敏感模态的正交耦合特性曲线。根据驱动模态的频率特性曲线,能够测量出驱动模态在谐振频率点的相位特性(代表了整个环路的真实相移),据此能够使闭环控制回路精确工作在谐振频率点。此外,改变SOPC嵌入式软件程序,也可以直接实现闭环驱动控制与敏感解调输出,而不需要额外的硬件开销。

关 键 词:硅微机械陀螺  特性曲线  可重构测试  嵌入式系统

Reconfigurable testing system for silicon micromechanical gyroscope characteristic curve based on FPGA
LUO Bing,LI Chao,WU Mei-ping,WANG An-cheng.Reconfigurable testing system for silicon micromechanical gyroscope characteristic curve based on FPGA[J].Journal of Chinese Inertial Technology,2010,18(5).
Authors:LUO Bing  LI Chao  WU Mei-ping  WANG An-cheng
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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