| 微波表面电阻TC90方案的测量精度实验分析 |
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| 引用本文： | 吉争鸣,吴培亨,许伟伟,孙国柱,郭大元.微波表面电阻TC90方案的测量精度实验分析[J].低温物理学报,2005,27(1):711-716. |
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| 作者姓名： | 吉争鸣 吴培亨 许伟伟 孙国柱 郭大元 |
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| 作者单位： | 南京大学电子科学与工程系,南京210093 |
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| 基金项目： | 本工作得到国家高技术研究发展计划（2002AA306181）,和国家超导标准化技术委员会课题资助. |
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| 摘 要： | 由于超导薄膜的表面阻抗Rs这一参量对超导微波元件的设计和开发有很重要意义，测量超导薄膜的表面阻抗Rs也就非常重要．目前国际上制定了高温超导薄膜在微波波段上表面阻抗Rs电特性的标准测量方案：IEC／TC90．此方案采用介质杆谐振器法测量表面阻抗的原理，使用蓝宝石介质杆和超导膜组成的谐振器法测量超导膜的Rs．本文分析了各个测量量对标准测量方案的测量精度，分析了在12GHz微波频率下，系统的各个实际部件的加工误差．认为频谱曲线的测量误差，即背景误差对最终测量结果Rs的影响是主要的．
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| 关 键 词： | 高温超导薄膜 表面电阻 测量误差 |
| 收稿时间： | 04 1 2005 12:00AM |
THE MEASURING PRECISION ANALYSIS OF SURFACE RESISTANCE IN MICROWAVE BAND BASED ON IEC/TC90 |
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| JI ZHENG-MING,WU PEI-HENG,XU WEI-WEI,SUN GUO-HU,GUO DA-YUAN.THE MEASURING PRECISION ANALYSIS OF SURFACE RESISTANCE IN MICROWAVE BAND BASED ON IEC/TC90[J].Chinese Journal of Low Temperature Physics,2005,27(1):711-716. |
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| Authors: | JI ZHENG-MING WU PEI-HENG XU WEI-WEI SUN GUO-HU GUO DA-YUAN |
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| Institution: | Nanjing university Electrical Science and Engineering Department Nanjing 210093 |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | high Tc superconductor film surface resistance measuring precision |
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