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储存初期多孔硅膜龟裂现象的显微观测与分析
引用本文:李刚,万歆.储存初期多孔硅膜龟裂现象的显微观测与分析[J].物理学报,1996,45(11):1925-1929.
作者姓名:李刚  万歆
作者单位:复旦大学物理系
摘    要:用显微镜观察到多孔硅薄膜在空气中储存初期的龟裂现象,揭示了发光畴区周围裂缝的来源,初步了探讨了龟裂现象的成因。.

关 键 词:多孔硅  薄膜  龟裂  显微观测
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