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硅光电二极管光谱响应率的测量
引用本文:崔亦飞,王洪涛,张雷.硅光电二极管光谱响应率的测量[J].大学物理实验,2005,18(3):61-63.
作者姓名:崔亦飞  王洪涛  张雷
作者单位:中国矿业大学,徐州,221008;中国矿业大学,徐州,221008;中国矿业大学,徐州,221008
摘    要:本文介绍测量硅光电二极管光谱响应率的实验装置及测量方法,并总结了在测量中要注意的问题,为今后的实验研究提供了有益的经验.

关 键 词:光谱响应  单色仪  基准探测器
文章编号:1007-2934(2005)03-0061-03
收稿时间:07 18 2005 12:00AM
修稿时间:2005年7月18日

THE MEASUREMENT OF SPECTRUM RESONSE OF SILICON-PHOTOELECTRICITY DIODE
Gui Yifei,Wang Hongtao,Zhang Lei.THE MEASUREMENT OF SPECTRUM RESONSE OF SILICON-PHOTOELECTRICITY DIODE[J].Physical Experiment of College,2005,18(3):61-63.
Authors:Gui Yifei  Wang Hongtao  Zhang Lei
Abstract:This article introduces the measurement of spectrum response of Silicon- photoelectricity diode. It includes experimental instruments and measuring methods. Furthermore, it summarizes several problems which should be paid attention to during the measuring,which offers beneficial experiences to the further researches.
Keywords:spectrum response  monochromator  reference detector
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