首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

离轴照明对ArF浸没式光刻的影响
引用本文:黄国胜,李艳秋,张飞.离轴照明对ArF浸没式光刻的影响[J].微细加工技术,2005(1):43-47,57.
作者姓名:黄国胜  李艳秋  张飞
作者单位:1. 中国科学院电工研究所,北京,100080;中国科学院研究生院,北京,100039
2. 中国科学院电工研究所,北京,100080
基金项目:中国科学院"引进国外杰出人才"2001年资助项目(2001年度),863IC装备专项(SSPC (03) 11 01)
摘    要:研究了离轴照明对65nm分辨率ArF漫没式光刻的影响。在3/4环形照明和3/4四极照明方式下,研究65nm线宽的密集线条、半密集线奈、孤立线条在较大曝光系统参数范围内的光刻性能,并对不同照明方式的光刻性能进行了比较。结果表明,在可用焦深(depth of foeus,DOF)范围内,满足光刻性能要求可以有较大范围的曝光系统参数配置。离轴照明的焦深比传统照明提高100%~150%,采用四极照明对孤立线条进行曝光,可以获得更好的光刻性能。

关 键 词:离轴照明  ArF浸没式光刻  仿真  PROLITH
文章编号:1003-8213(2005)01-0043-05

ArF Immersion Lithography for 65 nm Assisted by Off-axis Illumination
HUANG Guo-sheng,LI Yan-qiu,ZHANG Fei.ArF Immersion Lithography for 65 nm Assisted by Off-axis Illumination[J].Microfabrication Technology,2005(1):43-47,57.
Authors:HUANG Guo-sheng  LI Yan-qiu  ZHANG Fei
Institution:HUANG Guo-sheng~
Abstract:
Keywords:off-axis illumination  ArF immersion lithography  simulation  PROLITH
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号