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| 用气相色谱法测定超纯氢中痕量O_2+Ar、N_2、CO、CH_4和CO_2 | |
| 引用本文： | 黎修祺,何焕南,竺建英,俞柏华,毛平天.用气相色谱法测定超纯氢中痕量O_2+Ar、N_2、CO、CH_4和CO_2[J].分析化学,1988(7). |
| 作者姓名： | 黎修祺 何焕南 竺建英 俞柏华 毛平天 |
| 作者单位： | 中国科学院上海冶金研究所，中国科学院上海冶金研究所，中国科学院上海冶金研究所，中国科学院上海冶金研究所，中国科学院上海冶金研究所 |
| 摘 要： | 用气相色谱法测定了超纯氢中痕量杂质O_2+Ar、N_2、CO、CH_4和CO_2。将TCD和FID与预浓缩技术结合,当浓缩样品量为10升时,检测灵敏度分别达到O_2+Ar为0.2ppbV、N_2为0.4ppbV、CO为0.05ppbV、CH_4为0.2ppbV和CO_2为0.3ppbV。提出用浓缩体积差值法和按峰面积法两种方法计算样品中杂质浓度,前一种方法可消除载气中杂质浓度的影响。 |
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