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| 粉末压片制样-X射线荧光光谱法测定二氧化锆材料中二氧化锆的含量 | |
| 作者单位： | 武汉科技大学 省部共建耐火材料与冶金国家重点实验室,武汉 430081;安徽长江钢铁股份有限公司,马鞍山 243100 |
| 摘 要： | |
| 关 键 词： | 粉末压片法 X射线荧光光谱法 UniQuant软件 归一法 重叠干扰校正 二氧化锆 |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ | |
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