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| 开放架构ATE-开启测试系统新时代 | |
| 引用本文： | 周震一.开放架构ATE-开启测试系统新时代[J].半导体行业,2006(1):70-72. |
| 作者姓名： | 周震一 |
| 作者单位： | 爱德万测试 |
| 摘 要： | 近年来IC业的迅猛发展对于ATE（Automatic Test Equipment）在整体成本，以及系统的配置性、扩展性等方面提出了新的要求。相应地，“开放架构”作为ATE的一种新的解决方案被提出来并已开始实践。本文将结合第一台真正意义上的开放架构ATE——OPENSTAR T2000，对开放架构ATE进行介绍。 |
| 关 键 词： | 测试系统 架构 T2000 ATE Test 扩展性 |
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