Bestimmung von Elementspuren in Tantal durch ICP-AES und ICP-MS ohne und mit Spuren-Matrix-Trennung |
| |
| Authors: | J. Stummeyer and G. Wünsch |
| |
| Affiliation: | (1) Institut für Anorganische Chemie der Universität, Callinstrasse 9, W-3000 Hannover, Bundesrepublik Deutschland |
| |
| Abstract: | Zusammenfassung Für die Spurenanalyse in hochreinem Tantal werden die durch ICP-AES und ICP-MS erreichbaren Grenzen gezeigt. Zur weiteren Senkung der Nachweisgrenzen ist eine Spuren-Matrix-Trennung (SMT) erforderlich. Hierfür wird ein Verfahren mittels Kationenaustauscher im Säulenbetrieb beschrieben, das weniger anfällig für Kontaminationen ist als Methoden im Satzbetrieb mit Cellulose-Austauschern.
Determination of traces in tantalum by ICP-AES and ICP-MS without and with trace-matrix-separation Summary The limitations of direct trace determinations in high purity tantalum by ICP-AES and ICP-MS are evaluated. Further improvement of the detection limits requires previous trace-matrix-separations. A column procedure with a cation exchange resin is described which is less prone to contaminations than open batch methods using cellulose collectors. |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 SpringerLink 等数据库收录！ |
