| 预焙阳极微量元素XRF测定方法的研究 |
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| 引用本文： | 马慧侠,张爱芬,李智慧. 预焙阳极微量元素XRF测定方法的研究[J]. 分析测试学报, 2008, 27(9) |
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| 作者姓名： | 马慧侠 张爱芬 李智慧 |
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| 作者单位： | 中国铝业股份有限公司郑州研究院,河南,郑州,450041;中国铝业股份有限公司郑州研究院,河南,郑州,450041;中国铝业股份有限公司郑州研究院,河南,郑州,450041 |
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| 摘 要： | 使用X射线荧光光谱法测定预焙阳极中的微量和痕量元素，以粉末压片法制样，选用瑞士R＆D碳素公司的C-300系列标准样品，并用仪器软件Super Q中提供的飞利浦模式的经验系数（Classic）和铑（Rh）靶康普顿散射线内标法校正元素间的谱线重叠干扰和基体效应，通过充分研磨样品消除颗粒效应，使用Magix（PW2403）X射线荧光光谱仪对样品中的F、Na、Mg、Al、Si、P、S、C1、K、Ca、Ba、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Ph、Sr和Sn共22个元素进行测定，11次测定的相对标准偏差小于10％，多数元素的检出限小于1μg·g^-1。用R＆D标准样品的混合样验证，测量结果与标准值的误差在化学分析允许范围内。
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| 关 键 词： | X射线荧光光谱 经验系数 散射线内标法 预焙阳极 粉末压片法 |
Determination of Minor Elements in Prebaked Anode by X-ray Fluoresence Spectrometry |
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| MA Hui-xia,ZHANG Ai-fen,LI Zhi-hui. Determination of Minor Elements in Prebaked Anode by X-ray Fluoresence Spectrometry[J]. Journal of Instrumental Analysis, 2008, 27(9) |
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| Authors: | MA Hui-xia ZHANG Ai-fen LI Zhi-hui |
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