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荧光光谱法测定工业废水中痕量汞的研究
引用本文:罗兆福,左超,潘祖亭,徐勉懿.荧光光谱法测定工业废水中痕量汞的研究[J].分析试验室,2000,19(2):18-20.
作者姓名:罗兆福  左超  潘祖亭  徐勉懿
作者单位:武汉大学化学与环境科学学院,武汉,430072
基金项目:国家自然科学基金!资助课题 (2 943 40 2 0 1 )
摘    要:利用汞(Ⅱ)在适量一乙醇和β-环糊精存在下对四(4-三甲铵苯基)卟啉(TAPP)的荧光熄灭作用,提出了测量汞的高灵敏荧光光度新方法,拟定条件下的荧光激发峰λex=414nm,荧光发射峰λem=646nm,荧光熄灭值△F与Hg(Ⅱ)的质量浓度在0~3μg/25mL范围内呈线性关系。本法操作简便,不必加热,也无需催化剂,应用迅速且体系稳定。本法用于测定工业废水等样品中的痕量汞,与其它方法的结果吻合。

关 键 词:荧光光谱法  工业废水    痕量分析
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