二氧化锡薄膜：制备及在室温下气敏性质

利用溶胶-凝胶法首先在玻璃基片上制备了氧化锡晶种膜，之后采用溶剂热法在其上生长了致密的氧化锡薄膜。利用扫描电子显微镜和X射线衍射技术对氧化锡薄膜的形貌和晶体结构进行了表征，结果表明构成薄膜的氧化锡晶粒具有四方锡石结构，尺寸在7~10nm之间。表面活性剂在溶剂热反应过程中对薄膜生长的研究表明，十二烷基苯磺酸钠可以显著提高薄膜的质量。对所制备的氧化锡薄膜进了气敏性质研究，结果表明，在温和的测试条件下，如室温、常压、干燥的空气背景等，该氧化锡薄膜对二氧化氮气体具有良好的探测能力，检测限为1.0μL·L^-1。