| 红外焦平面阵列盲元簇成因分析 |
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| 引用本文： | 王巍,樊养余,司俊杰,吴伟,侯治锦.红外焦平面阵列盲元簇成因分析[J].红外与激光工程,2012(11):2857-2860. |
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| 作者姓名： | 王巍 樊养余 司俊杰 吴伟 侯治锦 |
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| 作者单位： | 西北工业大学电子信息学院;中国空空导弹研究院 |
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| 基金项目： | 航空创新基金(2011D01406) |
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| 摘 要： | 红外焦平面阵列中盲元簇的存在增加了系统盲元补偿算法的难度和复杂度。同时,基于算法处理的红外系统对盲元簇的要求更加严格,导致红外焦平面阵列的合格率大大降低。通过对大量红外焦平面阵列产品的测试,得到了盲元类别的统计结果:单个盲元、盲元对和盲元簇的盲元分别占盲元总数的60.8%、17.6%和21.6%。经分析,确定了盲元簇的几种主要成因:前工艺阶段的材料缺陷、光刻图形缺失、铟渣残留和铟柱缺陷;后工艺中的铟柱未连通、应力导致的芯片碎裂;可靠性试验诱发的缺陷暴露与扩大。研究结果表明,在探测器材料的筛选、铟柱制备技术、低应力的工艺和结构技术等方面做进一步的优化工作,可以降低盲元簇产生的几率,从而提高红外焦平面阵列的性能和成品率。
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| 关 键 词： | 盲元 盲元簇 红外焦平面阵列 成因 |
Analysis on formation of bad pixel cluster in IRFPA |
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| Wang Wei,Fan Yangyu,Si Junjie,Wu Wei,Hou Zhijin.Analysis on formation of bad pixel cluster in IRFPA[J].Infrared and Laser Engineering,2012(11):2857-2860. |
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| Authors: | Wang Wei Fan Yangyu Si Junjie Wu Wei Hou Zhijin |
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| Institution: | 1.School of Electronics and Information,Northwestern Polytechnical University,Xi′an 710072,China; 2.China Airborne Missile Academy,Luoyang 471009,China) |
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