| 一种应用于CMOS图像传感器的列级高精度ADC设计 |
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| 引用本文： | 张为森,马艳华,曲杨,常玉春.一种应用于CMOS图像传感器的列级高精度ADC设计[J].半导体光电,2022,43(5):867-872. |
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| 作者姓名： | 张为森 马艳华 曲杨 常玉春 |
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| 作者单位： | 大连理工大学 微电子学院, 辽宁 大连 116000 |
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| 基金项目： | 国家重点研发计划项目(2019YFB2204101)；工信部产业技术基础公共服务平台项目(CEIEC-2020-ZM02-0093/4).通信作者:马艳华E-mail:mayanhua@dlut.edu.cn |
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| 摘 要： | 针对CMOS图像传感器高精度和低功耗的需求,设计了一种14位列级模数转换器(ADC)。在传统斜坡式模数转换器(RAMP ADC)架构基础上,采用了3位逐次逼近型模数转换器(SAR ADC)与11位RAMP ADC相结合的两步式结构,有效缩短了量化时间。RAMP ADC部分采用高低时钟的计数方法,可显著降低计数区间内的功耗。同时,提出了RAMP-SAR-RAMP切换的相关双采样逻辑,可进一步减少静态随机存取存储器(SRAM)数量,从而缩小版图面积。采用0.18μm标准CMOS工艺进行仿真,结果表明:在600 MHz时钟、单沿计数的工作模式下,ADC量化时间为9.32μs,在1.8 V数字电源电压下,计数区间内功耗均值为8.51μW。
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| 关 键 词： | SAR/RAMP ADC 两步式 高精度 量化时间 CMOS图像传感器 |
| 收稿时间： | 2022/4/9 0:00:00 |
A Column-level High Resolution ADC Design for CMOS Image Sensor |
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| ZHANG Weisen,MA Yanhu,QU Yang,CHANG Yuchun.A Column-level High Resolution ADC Design for CMOS Image Sensor[J].Semiconductor Optoelectronics,2022,43(5):867-872. |
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| Authors: | ZHANG Weisen MA Yanhu QU Yang CHANG Yuchun |
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| Institution: | School of Microelectronics, Dalian University of Technology, Dalian 116600, CHN |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | SAR/RAMP ADC two-step high resolution quantization time CMOS image sensor |
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