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| 高效功率放大器温度可靠性研究 | |
| 作者单位： | ;1.天津大学电子信息工程学院 |
| 摘 要： | 该文研究了Ga N HEMT开关类功率放大器的直流特性和功率传输特性随温度变化的现象.本文基于Ga N HEMT设计了开关E类功率放大器,并通过加速寿命试验的方法研究了该功率放大器的直流和交流温度特性.研究表明由于Ga N HEMT的高温退化特性使得所设计的开关E类功率放大器的工作电流、小信号增益及最大输出功率等随温度升高均有降低. |
| 关 键 词： | 可靠性 氮化镓 高电子迁移率晶体管 功率放大器 加速寿命试验 |
Research on the temperature reliability of high efficiency power amplifier |
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