均差方函数及其在提高CCD条纹测量精度中的应用 |
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作者姓名: | 王双维 郝乃澜 |
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作者单位: | 东北师范大学物理系!长春,130024,长春医学高等专科学校!130031,东北师范大学物理系!长春,130024 |
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摘 要: | 一、引言近年来,各种光电技术的广泛应用是光学测量技术发展的热点.其中以CCD的使用最为常见.利用CCD对图象进行记录和测量在各种光学度量方面都进行了许多尝试.尤其是光束小角度偏转的检测,在光学检验的各个方面都有意义.使用Talbot效应对小角度光束进行测量,是一个十分有效的光学检测手段,近年来已十分成熟地应用于光束的各种物理量的测量,其基本原理简述如下:当平行光垂直照射一个周期性物体时,将在空间某处形成准确的自成像,称之为Talbot像.设周期性物体是光栅常量为d的郎奇光栅,则在Talbot距离z。处产生自成像.若在…
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关 键 词: | CCD 电荷耦合器件 干涉 莫尔条纹 均差方函数 |
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