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反射式负电子亲和势GaN光电阴极量子效率衰减机理研究
引用本文:乔建良,常本康,杜晓晴,牛军,邹继军. 反射式负电子亲和势GaN光电阴极量子效率衰减机理研究[J]. 物理学报, 2010, 59(4): 2855-2859
作者姓名:乔建良  常本康  杜晓晴  牛军  邹继军
作者单位:(1)南京理工大学电子工程与光电技术学院,南京 210094; (2)南京理工大学电子工程与光电技术学院,南京 210094;南阳理工学院电子与电气工程系,南阳 473004; (3)重庆大学光电工程学院,重庆 400030
基金项目:国家自然科学基金 (批准号:60871012,60701013)和河南省教育厅自然科学研究计划(批准号: 2010C510009)资助的课题.
摘    要:针对反射式负电子亲和势(NEA) GaN光电阴极量子效率的衰减以及不同波段对应量子效率衰减速度的不同,参照国外给出的NEA GaN光电阴极在反射模式下量子效率曲线随时间的衰减变化情况,利用GaN光电阴极铯氧激活后的表面模型[GaN(Mg):Cs]:O-Cs,结合量子效率衰减过程中表面势垒的变化,研究了反射式NEA GaN光电阴极量子效率的衰减机理. 有效偶极子数量的减小是造成量子效率降低的根本原因,表面I,II势垒形状的变化造成了不同波段对应的量子效率下降速度的不同. 关键词:负电子亲和势GaN光电阴极量子效率表面势垒

关 键 词:负电子亲和势  GaN光电阴极  量子效率  表面势垒
收稿时间:2009-04-27

Quantum efficiency decay mechanism for reflection-mode negative electron affinity GaN photocathode
Qiao Jian-Liang,Chang Ben-Kang,Du Xiao-Qing,Niu Jun,Zou Ji-Jun. Quantum efficiency decay mechanism for reflection-mode negative electron affinity GaN photocathode[J]. Acta Physica Sinica, 2010, 59(4): 2855-2859
Authors:Qiao Jian-Liang  Chang Ben-Kang  Du Xiao-Qing  Niu Jun  Zou Ji-Jun
Abstract:Aimming at the decay tendency of reflection-mode negative electron affinity(NEA) GaN photocathode and the different decay speeds of quantum efficiency corresponding to the different wave bands,and referring to the decay tendency of quantum efficiency curve provided by foreign authors for reflection-mode NEA GaN photocathode,the quantum efficiency decay mechanism for reflection-mode NEA GaN photocathode was studied.The surface model [GaN(Mg) :Cs]:O-Cs for GaN photocathode after being activated with cesium an...
Keywords:negative elctron affinity   GaN photocathode   quantum efficiency   surface barrier
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