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| 塞曼原子吸收光谱法中谱线轮廓研究：Ⅲ.π成分作用 | |
| 引用本文： | 何华Kun 谢永松.塞曼原子吸收光谱法中谱线轮廓研究：Ⅲ.π成分作用[J].分析测试学报,1993,12(4):1-5. |
| 作者姓名： | 何华Kun 谢永松 |
| 作者单位： | 中国广州分析测试中心，中国广州分析测试中心，中国广州分析测试中心 广州 510070，广州 510070，广州 510070 |
| 摘 要： | 分析了塞曼原子吸收光谱(ZAAS)法中π成分的作用,特别对横向磁场调制ZAAS法中偏光元件与π成分作用间的关系进行了详细讨论。报道了32种元素的34条谱线在无偏光元件条件下的相对灵敏系数(R_x(nP))的理论计算值与实验测定值。 |
| 关 键 词： | 原子吸收光谱 谱线轮廓 偏光元件 |
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