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电子封装QFP组件热疲劳有限元分析与研究
引用本文:李灶鹏.电子封装QFP组件热疲劳有限元分析与研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2015(3).
作者姓名:李灶鹏
作者单位:北华航天工业学院电子与控制工程学院,河北 廊坊,065000
基金项目:北华航天工业学院青年基金项目(KY-2014-04);廊坊市科学技术研究与发展计划项目
摘    要:利用有限元分析方法,通过ANSYS分析软件建立三维立体模型,模拟方形扁平式封装(QFP)组件在整个散热过程中所发生的变化;处理各个组件的温度分布云图,从而了解到整个封装的温度分布;并对结果进行了分析与研究。研究结果表明:最终模拟计算的结果与实际试验的结果基本一致。

关 键 词:方型扁平式封装组件  热疲劳  有限元  电子封装

Finite Element Analysis and Research of the Thermal Fatigue of Electronic Packaging QFP Components
LI Zao-peng.Finite Element Analysis and Research of the Thermal Fatigue of Electronic Packaging QFP Components[J].Electronic Product Reliability and Environmental Testing,2015(3).
Authors:LI Zao-peng
Abstract:
Keywords:QFP  the termal fatigue  finite element  electronic packaging
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