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| 应用电子辐照技术控制功率开关晶体管少子寿命的研究 | |
| 引用本文： | 柴天恩,乔健,麦淑贤,郑继义,常保延.应用电子辐照技术控制功率开关晶体管少子寿命的研究[J].半导体学报,1987,8(3):325-328. |
| 作者姓名： | 柴天恩 乔健 麦淑贤 郑继义 常保延 |
| 作者单位： | 陕西机械学院 (柴天恩，乔健，麦淑贤)，国营卫光电工厂 (郑继义)，国营卫光电工厂(常保延) |
| 摘 要： | 本文以高压大功率开关晶体管的电子辐照实验为基础,探讨了辐照对器件少子寿命、直流电流放大系数、饱和压降、开关时间的影响.研究结果表明:精确控制电子注量可以精确控制少子寿命,并且,适当注量的辐照可以兼顾晶体管的各电参数,从而简化了设计工作,并使器件开关特性得到显著的改善. |
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