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光学薄膜任意厚度控制装置透过率数值的标定

作者姓名：	朱震李文生华源森

作者单位：	华北光电所，华北光电所，华北光电所

摘要：	本文利用改变两片偏振片透射轴之间夹角精确计算出强度变化的原理,设计加工了一个三片偏振片线性测试装置(3px),其测试精度为0.1％。用来标定任意厚度控制装置的透过率值。
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