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基于GPIB总线的芯片测试系统开发与应用
引用本文:
林晨,艾博,宗俊吉.基于GPIB总线的芯片测试系统开发与应用[J].电子工业专用设备,2022(4):23-27.
作者姓名:
林晨
艾博
宗俊吉
作者单位:
中国电子科技集团公司第四十五研究所
摘 要:
介绍了GPIB接口系统的功能及其应用;利用计算机、GPIB总线、测试仪器组成芯片测试系统,阐述了该系统的软件流程;最后总结了软件设计对芯片测试系统控制、数据采集和实时显示的效果。
关 键 词:
通用接口总线(GPIB)
测试系统
数据采集
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