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基于GPIB总线的芯片测试系统开发与应用
引用本文:林晨,艾博,宗俊吉.基于GPIB总线的芯片测试系统开发与应用[J].电子工业专用设备,2022(4):23-27.
作者姓名:林晨  艾博  宗俊吉
作者单位:中国电子科技集团公司第四十五研究所
摘    要:介绍了GPIB接口系统的功能及其应用;利用计算机、GPIB总线、测试仪器组成芯片测试系统,阐述了该系统的软件流程;最后总结了软件设计对芯片测试系统控制、数据采集和实时显示的效果。

关 键 词:通用接口总线(GPIB)  测试系统  数据采集
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