X射线荧光光谱法测定耐指纹板有机涂层中二氧化硅

应用X射线荧光光谱法测定了耐指纹板有机涂层中二氧化硅的含量。在所用的校准样品和测试样品的基板成分相同和所用的有机涂层属同类的前提下,可采用经验系数法进行校正。应用此方法对已知二氧化硅含量的耐指纹板样品(二氧化硅量为76.65 mg.m-2)进行12次测定,测得二氧化硅含量的平均值为76.66 mg.m-2,其相对标准偏差为0.087%。