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CCD器件在激光干涉测试中的应用
引用本文:王国秀,廉金瑞.CCD器件在激光干涉测试中的应用[J].天津大学学报(自然科学与工程技术版),1989(1):87-90.
作者姓名:王国秀  廉金瑞
作者单位:天津大学电子工程系 (王国秀),天津大学机械制造工程系 (廉金瑞,蔡国余),天津大学机械制造工程系(李俊岳)
摘    要:本文以电弧等离子体激光干涉诊断为例论述了用CCD作为光电传感器对干涉条纹进行自动检测的原理和实验结果。结果表明,这一方法不仅大大缩短了条纹判别时间,而且可消除人为误差,实现了测试过程的连续化和自动化,为电弧等离子体等过程的实时控制奠定了基础。

关 键 词:CCD器件  激光  测试法  电弧等离子体

APPLICATION OF CCD TO LASER INTERFEROMETRY
Wang Guoxiu Lian Jinrui Cai Guoyu Li Junyue.APPLICATION OF CCD TO LASER INTERFEROMETRY[J].Journal of Tianjin University(Science and Technology),1989(1):87-90.
Authors:Wang Guoxiu Lian Jinrui Cai Guoyu Li Junyue
Institution:Deparfment of Mechanical Engineering) 2) Department of Elecfronic Engineering
Abstract:In this paper the diagnosis of arc plasma serves as the example to illustrate the principle and experimental results of automatic measurements of laser interference fringes with CCD. The example shows that the time required to distinguish fringes is greatly reduced, and the artificial errors are eliminated. The continuity and automization of the measurement provide the basis for real time control of arc plasma process.
Keywords:CCD  laser  measurement  arc plasma  microcomputer
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