The limit of detectability in X-ray electron-probe microanalysis

Summary The definitions given by various authors for the limit of detectability are compared and their relationship to the basic measurements (especially the background value) is explained. A new definition is derived on the assumption that the relative standard deviation must not exceed 33.3% if negative results are to be avoided. Negative results may still appear, but only very rarely. The properties of this limit of detectability are discussed, together with the effect of making multiple measurements of the background and peak.

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Zusammenfassung Die von verschiedenen Autoren angegebenen Definitionen der Nachweisgrenze wurden verglichen und deren Beziehung zu den Bezugsmessungen (besonders des Untergrundes) wurde erklärt. Eine neue Definition wurde von der Annahme abgeleitet, daß die relative Standardabweichung 33,3% nicht überschreiten darf, sollen negative Resultate vermieden werden. Solche können zwar auftreten, aber nur sehr selten. Die Eigenschaften dieser Nachweisgrenze wurden ebenso wie die Auswirkung mehrfacher Messungen des Untergrundes und der Peaks diskutiert.