在能量色散X射线荧光分析中用基本参数法计算合金成份 |
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引用本文: | 张元勋,陈志祥.在能量色散X射线荧光分析中用基本参数法计算合金成份[J].分析试验室,1983(3). |
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作者姓名: | 张元勋 陈志祥 |
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作者单位: | 中国科学院上海原子核研究所
(张元勋),中国科学院上海原子核研究所(陈志祥) |
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摘 要: | 引言在X射线荧光分析中,基本参数法是校正元素间吸收增强效应的一种数学方法。它是根据样品受激发射荧光X射线的原理在测定了样品中各元素的特征X射线强度以后,利用已知的物理参数,如质量吸收系数,荧光产额,X射线特征谱线的相对强度,入射辐射能谱,几何因子,探测效率等,在给定的初值条件下通过理论计算,用迭代逐步逼近法直接求得样品中各元素的含量。
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