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原子荧光光谱测定化妆品中痕量铅
引用本文:黄宗平. 原子荧光光谱测定化妆品中痕量铅[J]. 理化检验(化学分册), 2003, 39(2): 94-95
作者姓名:黄宗平
作者单位:厦门出入境检验检疫局,厦门 361012
摘    要:介绍氢化物发生-原子荧光光谱法对化妆品中铅含量的定量分析方法,并研究原子荧光光谱测定铅的分析条件。方法检出限低,精密度高,准确性好,可用于测定化妆品中的痕量铅。

关 键 词:原子荧光光谱 测定 化妆品 痕量分析 铅
文章编号:1001-4020(2003)02-0094-02
修稿时间:2001-05-18

HG-AFS Determination of Trace Amounts of Lead in Cosmetics
HUANG Zong ping. HG-AFS Determination of Trace Amounts of Lead in Cosmetics[J]. Physical Testing and Chemical Analysis Part B:Chemical Analgsis, 2003, 39(2): 94-95
Authors:HUANG Zong ping
Abstract:
Keywords:HG AFS  Traces of lead  Cosmetics  
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