| 装备电子设备边界扫描系列标准及测试性设计技术研究 |
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| 引用本文： | 刘萌萌,苏峰,宋成军.装备电子设备边界扫描系列标准及测试性设计技术研究[J].应用声学,2017,25(2):2-2. |
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| 作者姓名： | 刘萌萌 苏峰 宋成军 |
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| 作者单位： | 1.中国航空综合技术研究所 质量工程中心,1.中国航空综合技术研究所 质量工程中心,1.中国航空综合技术研究所 质量工程中心 |
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| 摘 要： | 随着新一代电子产品的复杂化和密集程度的不断提高,电路和系统的可测试性急剧下降,传统测试技术已经不能满足需要。针对我国军用电子设备的测试及诊断工作需求,通过对IEEE1149系列边界扫描测试标准进行了研究分析,分析各标准的特征范围、适用对象、各标准相互关系,可以分析梳理IEEE1149标准在我国军用电子设备测试性设计中的可行性和适用性,探索得到将边界扫描技术在测试性设计上的应用思路。将边界扫描技术应用于电子设备不同范围的测试设计,能有效地解决传统测试性设计的问题,能够提升诊断能力,缩减产品生产周期及研制费用。
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| 关 键 词： | 测试 边界扫描 测试性设计 标准 数模混合电路 |
| 收稿时间： | 2015/12/18 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2016/5/31 0:00:00 |
Research on IEEE Boundary-Scan Standard and testability design for electronic equipment |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Test Boundary-Scan Testability design Standardization Digital-Analog mixed circuit |
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