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溅射气压对DC磁控溅射制备AIN薄膜的影响
引用本文:赖珍荃,邹文祥,李海翼,刘文兴.溅射气压对DC磁控溅射制备AIN薄膜的影响[J].南昌大学学报(理科版),2011,35(1).
作者姓名:赖珍荃  邹文祥  李海翼  刘文兴
作者单位:南昌大学物理学系,江西,南昌,330031
基金项目:国家自然科学基金资助项目,同济大学波与材料微结构重点实验室开放基金资助项目
摘    要:采用DC反应磁控溅射法,在Si(111)和玻璃基底上成功的制备了AIN薄膜.研究溅射过程中溅射气压对薄膜性能的影响.结果表明:薄膜中原子比N/Al接近于1;当溅射气压低于0.6 Pa时,薄膜为非晶态;当溅射气压不低于0.6Pa时,薄膜的XRD图中均出现了6方相的AIN(100)、(110)和弱的(002)衍射峰,说明所制备的AIN薄膜为多晶态;气压为0.6 Pa时对应衍射峰的半高峰宽较小,薄膜的结晶性较好,随着溅射气压的继续增大,薄膜结晶性变差;在不同的溅射气压(0.6-1.0 Pa)下,MN薄膜在250-1000 nm波长范围内的透过率均在82%以上,且随溅射气压的增大略有升高.

关 键 词:AIN薄膜  磁控溅射  溅射气压  透过率

Influence of sputtering pressure on AIN thin films prepared by DC magnetron sputtering
LAI Zhen-quan,ZOU Wen-xiang,LI Hai-yi,LIU Wen-xing.Influence of sputtering pressure on AIN thin films prepared by DC magnetron sputtering[J].Journal of Nanchang University(Natural Science),2011,35(1).
Authors:LAI Zhen-quan  ZOU Wen-xiang  LI Hai-yi  LIU Wen-xing
Abstract:
Keywords:
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