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| 激光椭偏仪多角入射法测定磁性石榴石薄膜的厚度和折射率 | |
| 作者姓名： | 徐梅娣 陈裕三 刘湘林 |
| 作者单位： | 中国科学院上海冶金研究所，中国科学院上海冶金研究所，中国科学院上海冶金研究所 |
| 摘 要： | 本文叙述了椭偏仪在测量磁性单晶薄膜的光学常数和厚度中的应用。采用“多角入射法”,在波长6328(?),直接判别膜厚周期 D(?)的正整数倍 m(?),从而计算出2(?)>360°时外延膜的真空厚度.在入射角为75.0°时,我们测量了上述薄膜的厚度和折射率的重复误差。 |
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