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| 两成败型元件可靠性之差的经典精确最优置信下限 | |
| 引用本文： | 范大茵.两成败型元件可靠性之差的经典精确最优置信下限[J].应用概率统计,1993,9(3):252-259. |
| 作者姓名： | 范大茵 |
| 作者单位： | 浙江大学 杭州 |
| 摘 要： | 设有可靠性分别为p1和p2的两成败型元件.第i个元件试验N_次,成功S_次(i=1,2).本文利用样本点排序的方法给出了Q=p1-p2的经典的置信下限,并讨论了所得置信下限的精确性及最优性. |
| 关 键 词： | 成败型元件 可靠性 置信下界 |
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