| 基于PXI总线的自动测试系统设计 |
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| 引用本文： | 张蕊,郎杰.基于PXI总线的自动测试系统设计[J].光电技术应用,2014,29(3):44. |
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| 作者姓名： | 张蕊 郎杰 |
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| 作者单位： | 1. 中国电子科技集团公司光电研究院,天津,300000
2. 国营第七二二厂,广西桂林,541001 |
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| 摘 要： | 针对电子设备的测试需求、系统开放性和可扩展的要求,开发了一种基于PXI总线的自动测试系统。详细说明了此系统的硬件构成和软件设计方法。该系统以PXI内嵌主控计算机为核心,以LabVIEW软件为开发环境,并综合运用标准接口和总线技术来实现系统的综合设计。系统具有良好的人机交互界面,在使用过程中运行稳定可靠、测试效率高、使用维护方便。
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| 关 键 词： | PXI LabVIEW 自动测试系统 Visual C++ |
| 收稿时间： | 2014/4/11 |
Design of Automatic Test System Based on PXI Bus |
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| ZHANG Rui
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LANG Jie.Design of Automatic Test System Based on PXI Bus[J].Electro-Optic Technology Application,2014,29(3):44. |
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| Authors: | ZHANG Rui LANG Jie |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | PCI extensions for instrumentation (PXI) LabVIEW automatic test system (ATS) Visual C++ |
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