|
|||||
|
|
| 氧缺位对YBa2Cu3O7—x超导体中临界电流密度和磁弛豫行为的影响 | |
| 作者姓名： | 张宏 吴鸿 |
| 作者单位： | 中国科学院上海冶金研究所，中国科学院上海冶金研究所，上海科学技术大学，中国科学院上海冶金研究所 上海 200050，上海 200050，92届毕业实习生，上海 200050 |
| 摘 要： | 用梯化曲线和磁驰豫测量研究了缺氧ＹＢａ２ＣｕＯ７－ｘ超导体中氧缺位对磁通行为的影响。实验表明：在低氧缺位时临界电流密度随氧缺位ｘ的增加稍有增加，且随磁场的增加出现一高起的平面，当氧缺位ｘ进一步增加，临界电流密度下降，且随磁场增加单调下降。零场冷却（ＸＦＣ），长场至固定磁场后磁化强度随时间依半对数关系衷减，磁通蠕动的热激活能随氧缺位ｘ的增加而下降。 |
| 关 键 词： | 超导体 氧缺位 临界电流 磁弛豫 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |