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| 电子设备抗单粒子翻转地面实验技术研究 | |
| 引用本文： | 辛明瑞,樊晓桠,唐雪寒,高德远.电子设备抗单粒子翻转地面实验技术研究[J].微电子学与计算机,2003,20(2):13-15. |
| 作者姓名： | 辛明瑞 樊晓桠 唐雪寒 高德远 |
| 作者单位： | 1. 西北工业大学计算机系,西安,710072 2. 航天科技集团771所,西安,710075 |
| 摘 要： | 单粒子翻转对应用在航天领域的电子设备的可靠性具有重大的影响，依靠加速器产生的重粒子进行单粒子翻转的模拟实验，是一种有效的验证方法，本文通过在兰州近代物理研究所加速器上进行的风云一号卫星星载固态记录路单粒子反转实验，介绍了利用加速器进行验证电子设备系统级抗单粒子翻转技术的实验方法。 |
| 关 键 词： | 单粒子翻转 加速器 重粒子 固态记录器 航天技术 电子设备 可靠性 |
| 修稿时间： | 2002年11月9日 |
The Reserch about Single Event Upset Experiment of Electronic Device |
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| Abstract: | |
| Keywords: | |
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