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InAs/GaAs和InAs/InxGa1-xAs/GaAs纳米线异质结构的生长研究
作者姓名:叶显  黄辉  任晓敏  郭经纬  黄永清  王琦  张霞
作者单位:北京邮电大学,信息光子学与光通信教育部重点实验室,北京 100876
基金项目:国家重点基础研究发展计划(批准号:2010CB327600),"111"计划项目(批准号:B07005),国家高技术研究发展计划(批准号:2009AA03Z405, 2009AA03Z417),中央高校基本科研业务费专项资金(批准号:BUPT2009RC0409, BUPT2009RC0410)资助的课题.
摘    要:利用金辅助金属有机化学气相沉淀法(MOCVD)在GaAs(111)B衬底上分别制备了InAs/GaAs和InAs/In x Ga1-xAs/GaAs(0≤x≤1)纳米线异质结构.实验结果显示,直接生长在GaAs纳米线上的InAs纳米线生长方向杂乱或者沿着GaAs纳米线侧壁向衬底方向生长,生长的含有In x Ga1-xAs组分渐变缓冲段的InAs/In x Ga1-x关键词: 纳米线异质结构 xGa1-xAs')" href="#">InxGa1-xAs 组分渐变缓冲层 金属有机化学气相沉淀法

关 键 词:纳米线异质结构  InxGa1-xAs  组分渐变缓冲层  金属有机化学气相沉淀法
收稿时间:2010-01-11
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