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| 复合缺陷型电磁帯隙谐振腔 | |
| 作者姓名： | 柏宁丰 洪玮 孙小菡 |
| 作者单位： | 东南大学电子器件与系统可靠性研究中心,南京 210096 |
| 摘 要： | 提出了一种复合缺陷型电磁带隙(EBG)谐振腔,通过对该EBG结构的带隙分析,指出该谐振腔可在大尺寸下实现单模工作,提供更大的容差空间,且具有高Q值.数值模拟结果表明,基于复合缺陷EBG结构构成的谐振腔,单模工作条件可以放宽到外圈金属柱直径与周期之比为0.6,内圈金属柱直径与周期比为0.9;而传统中心缺陷型EBG结构的小于0.3.
关键词：
电磁带隙
复合缺陷
谐振腔
单模 |
| 关 键 词： | 电磁带隙 复合缺陷 谐振腔 单模 |
| 收稿时间： | 2009-11-27 |
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