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一种测量高反膜绝对反射率的新方法
作者姓名:黄永楷  庄大奎
作者单位:中国科学院上海光学精密机械研究所(黄永楷),中国科学院上海光学精密机械研究所(庄大奎)
摘    要:提出了一种利用光延迟线的绝对反射率测量法,并给出实验结果。测量精度优于2×10~(-4).

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