| 基于动态贪婪算法的不可靠测试点选择 |
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| 引用本文： | 叶晓慧,潘佳梁,王红霞,刘双双. 基于动态贪婪算法的不可靠测试点选择[J]. 北京理工大学学报, 2010, 30(11): 1350-1354 |
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| 作者姓名： | 叶晓慧 潘佳梁 王红霞 刘双双 |
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| 作者单位： | 海军工程大学,电子工程学院,湖北,武汉,440033;海军工程大学,电子工程学院,湖北,武汉,440033;海军工程大学,电子工程学院,湖北,武汉,440033;海军工程大学,电子工程学院,湖北,武汉,440033 |
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| 基金项目： | 湖北省自然科学基金资助项目 |
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| 摘 要： | 针对测试不可靠条件下的测点选择问题,根据故障-测试关联矩阵以及考虑故障检测率、故障隔离率和误诊率,建立了通用的数学模型.依据测试点对故障检测率和故障隔离率的贡献定义故障检测隔离费用,并以此为贪婪准则,提出一种动态贪婪算法来解决测试不可靠条件下测点选择问题.应用案例验证该算法能快速准确找出最优或近似最优测试集,适合大型复杂系统的测试性分析与验证.
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| 关 键 词： | 测试性分析 不可靠测试 测试集优化 贪婪算法 检测隔离费用 |
| 收稿时间： | 2009-07-14 |
Test Set Selection Under Unreliable Test Based on a New Dynamic Greedy Algorithm |
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| YE Xiao-hui,PAN Jia-liang,WANG Hong-xia and LIU Shuang-shuang. Test Set Selection Under Unreliable Test Based on a New Dynamic Greedy Algorithm[J]. Journal of Beijing Institute of Technology(Natural Science Edition), 2010, 30(11): 1350-1354 |
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| Authors: | YE Xiao-hui PAN Jia-liang WANG Hong-xia LIU Shuang-shuang |
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| Affiliation: | YE Xiao-hui,PAN Jia-liang,WANG Hong-xia,LIU Shuang-shuang(School of Electronic Engineering,Naval University of Engineering,Wuhan,Hubei 440033,China) |
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| Abstract: | Considering the fault detection rate(FDR),faults isolation rate(FIR)and false alarm rate(FAR),this article presents a universal mathematical model to solve test selection problem under unreliable test based on diagnostic dictionary matrix.On the basis of the contribution of FDR and FIR,a new function named the fault detection and isolation fee(FDIF)was defined and it was adopted as the greedy criterion.A new dynamic greedy algorithm was proposed to deal with the test selection issue with unreliable test.An ... |
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| Keywords: | testability analysis unreliable test test set optimization greedy algorithm fault detection and isolation fee(FDIF) |
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