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聚苯胺薄膜厚度的表征及原位生长
引用本文:李冀蜀,顾大伟,沈临江,杨南如.聚苯胺薄膜厚度的表征及原位生长[J].南京工业大学学报(自然科学版),2010,32(5).
作者姓名:李冀蜀  顾大伟  沈临江  杨南如
作者单位:1. 南京工业大学,理学院,江苏,南京,210009;南京工业大学,材料科学与工程学院,江苏,南京,210009
2. 南京工业大学,理学院,江苏,南京,210009
3. 南京工业大学,材料科学与工程学院,江苏,南京,210009
基金项目:国家自然科学基金资助项目 
摘    要:以石英基片为衬底,分别在常压0.1MPa和500MPa高压条件下采用原位聚合法制备聚苯胺(PANI)薄膜.通过对PANI薄膜的厚度进行原子力显微镜的直接测量和光谱的间接表征,建立了薄膜厚度df (nm) 与薄膜UV-Vis吸收光谱中400 nm处吸收强度A400间的关系: df = 548A400(0.1MPa)及df=341A400(500MPa).根据这一关系进一步测量了薄膜的生长曲线,并通过扫描电镜(SEM)形貌观测和电导率测试,研究了原位聚合PANI薄膜在不同合成压力下的生长及导电特性.

关 键 词:聚苯胺薄膜  厚度  压力  原位聚合  生长

Characterization of thickness and in situ growth of polyaniline films
LI Ji-shu,GU Da-wei,SHEN Lin-jiang,YANG Nan-ru.Characterization of thickness and in situ growth of polyaniline films[J].Journal of Nanjing University of Technology,2010,32(5).
Authors:LI Ji-shu  GU Da-wei  SHEN Lin-jiang  YANG Nan-ru
Abstract:
Keywords:
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