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| 基于DDS与MCU的运算放大器参数测量系统设计 | |
| 引用本文： | 刘红亮,肖振宇,黄龙杰.基于DDS与MCU的运算放大器参数测量系统设计[J].电子设计应用,2007(4):100-102. |
| 作者姓名： | 刘红亮 肖振宇 黄龙杰 |
| 作者单位： | 华中科技大学电子与信息工程系 |
| 摘 要： | 本文设计了一种由SPCE061控制核与DDS扫频信号源组成的测量系统,可自动测量集成运放输入失调电压VIO、输入失调电流IIO、交流差模开环电压增益AVD、交流共模抑制比KCMR和单位增益带宽BWG。测量精度由符合GB3442-82标准的标定电路校正。控制软件采用二分优化算法,提升了系统响应灵敏度,DDS的高分辨率则有效地改善了BWG测量精度。 |
| 关 键 词： | 运放参数 DDS MCU 二分法 |
Design of Automatic Amplifier Parameter Meter Based on DDS and MCU |
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