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| 信息技术设备的温度测试方法 | |
| 引用本文： | 王黎雯.信息技术设备的温度测试方法[J].安全与电磁兼容,2013(4):32-34. |
| 作者姓名： | 王黎雯 |
| 作者单位： | 中国电子技术标准化研究院 |
| 摘 要： | 引言
信息技术设备在正常使用过程中,不应产生过高的温度,以避免对人体的灼伤、设备绝缘等级下降和安全元器件性能降低,甚至着火等危险。本文通过分析信息技术设备的发热原理和GB 4943.1-2011《信息技术设备安全第1部分：通用要求》对发热的要求,重点介绍了热电偶法,并以开关电源温升比对试验为实例,分析并总结了影响温度测试试验结果的若干因素。 |
| 关 键 词： | 信息技术设备 测试方法 温度 发热原理 设备安全 性能降低 绝缘等级 热电偶法 |
Temperature Rise Determination on Information Technology Equipment |
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